推薦一些適合不同測試場景的探針型號

不同測試場景對探針的性能和規(guī)格要求各異，以下是一些適合不同測試場景的探針型號推薦：

PCB在線測試（ICT）：華榮華SP040探針，針身直徑0.61mm，總長度35.9mm，額定電流2A，接觸電阻30毫歐姆，適用于一般的在線測試場景；華榮華SP156探針，直徑2.36mm，額定電流5A，接觸電阻50毫歐姆，可用于對電流承載能力要求較高的PCB測試。

PCB功能測試（FCT）：INGUN標準彈簧探針，具有多種針頭形狀和連接方式，可滿足不同的測試需求；INGUN E-Type?探針，具有較高的預緊力，能在測試過程中確?？煽坑|探，適用于臟污表面的觸探。

半導體芯片測試：會芯半導體的懸臂探針卡，可支持單排最小40um pad管腳間距，超短懸臂設計可應用于3GHz@-3dB高速芯片測試，適用于小間距、鍵合焊線封裝類芯片測試；3D MEMS微懸臂探針卡，如Takumi Probe Card，最小支持30umx30um的Pad尺寸，探針卡壽命超過100萬次，適用于尖端半導體工藝節(jié)點和先進封裝的小間距、高針數(shù)等復雜測試需求。

射頻測試：會芯半導體的Membrane/pProbe射頻探針卡，能夠實現(xiàn)超過80GHz的測試頻率，具有最小的劃痕度和低電感值，可對從手機射頻前端部件到汽車雷達芯片的任何射頻應用進行全面測試。

大電流測試：華榮華SP189探針，直徑3.16mm，額定電流5A，可用于需要承載較大電流的測試場景，如電源模塊測試等。